手機電磁兼容測試:ESD靜電放電問題盤點

靜電放電（ESD）的破壞作用具有隱蔽性、潛在性、隨機性和復(fù)雜性的特點。來自Intel的資料表明，在引起電子器件故障的諸多因素中，ESD是最大的隱患。所以，模擬靜電放電的測試在世界范圍內(nèi)得到廣泛關(guān)注。

手機靜電放電失效的具體表現(xiàn)

1. 手機通話中斷。
2. 手機部分功能失效，但試驗結(jié)束后或重新啟動手機，可以恢復(fù)正常。具體表現(xiàn)為：屏幕顯示異常，如白屏、條紋、亂碼、模糊等；通話異常，如嘯叫聲或聲音時斷時續(xù)；按鍵（觸摸屏）功能異常；軟件誤報警，例如并未進行充電器插拔，卻頻繁提示“充電已連接、充電器已移除"。
3. 手機自動關(guān)機或重新啟動。可能發(fā)生在通話狀態(tài)或待機狀態(tài)。
4. 手機失效或損壞。如攝像頭等部分器件損壞；手機與充電器相連進行測試時，充電器也可能出現(xiàn)失效、損壞甚至爆炸等問題。

手機靜電放電失效的具體分析

手機靜電放電失效的改進建議

盡量選擇靜電敏感度等級高的器件。器件與靜電源隔離，減少回路面積(面積越大，所包含的場流量越大，其感應(yīng)電流越大)。具體的措施可能包括：走線越短越好；電源與地越接近越好；存在多組電源和地時，以格子方式連接；太長的信號線或電源線宜與地線交錯布置；信號線越靠近地線越好；同一特性器件越近越好；盡量在PCB上使用完整的地平面，PCB接地面積越大越好，不要有大的缺口，PCB的接地線要低阻抗；電源、地布局在板中間比在四周好；在電源和地之間放置高頻旁路電容；保護靜電敏感的元器件。